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產(chǎn)品展示
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F10-RTFilmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x
F20Filmetrics 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
F40Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
F50Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x自動(dòng)化MAPPING
F54-XY-200Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Profilm3DKLA光學(xué)輪廓儀
P-7KLA 探針式臺(tái)階儀
Zeta-20KLA 白光共聚焦顯微鏡
2025
12-8光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的工作原理和應(yīng)用領(lǐng)域
光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x（是一種非接觸式、精確測(cè)量薄膜厚度的儀器，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電、涂層、玻璃、金屬等領(lǐng)域的薄膜材料檢測(cè)。與傳統(tǒng)的機(jī)械測(cè)量方法相比，光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x具...2025
11-21自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀通常具有以下自動(dòng)化特性
自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀是一種用于非接觸、非破壞性地測(cè)量薄膜材料厚度的儀器。它通常應(yīng)用于電子、光學(xué)、半導(dǎo)體、薄膜涂層、太陽(yáng)能電池、光學(xué)鏡片等領(lǐng)域，特別是在薄膜生產(chǎn)和研...2025
11-19四探針電阻率測(cè)量?jī)x是一種常用于測(cè)量材料電阻率的儀器
四探針電阻率測(cè)量?jī)x是一種常用于測(cè)量材料電阻率的儀器，特別適用于半導(dǎo)體、金屬、薄膜等材料的電阻特性分析。它通過(guò)四個(gè)探針同時(shí)接觸到樣品表面，利用其測(cè)量電流和電壓來(lái)計(jì)...2025
11-18KLA納米壓痕儀實(shí)驗(yàn)技巧
KLA納米壓痕儀作為表征材料微觀力學(xué)性能(如硬度、彈性模量、蠕變、斷裂韌性等)的核心設(shè)備，其實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性高度依賴(lài)樣品制備、參數(shù)設(shè)置、操作規(guī)范及數(shù)據(jù)解讀的科學(xué)...2025
11-24表面光學(xué)輪廓儀的使用要注意以下幾點(diǎn)
表面光學(xué)輪廓儀是一種高精度的測(cè)量工具，用于獲取物體表面的三維形貌和微觀結(jié)構(gòu)特征。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工程、制造業(yè)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域，尤其在需要高精度表面形貌...2025
10-24Filmetircs光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x主要由以下幾個(gè)組成部件構(gòu)成
Filmetircs光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是一種用于測(cè)量薄膜厚度和光學(xué)特性的精密儀器，通過(guò)分析材料對(duì)不同波長(zhǎng)光的反射、透射和吸收特性，可以確定薄膜的厚度、折射率等參數(shù)。...2025
9-19如何選擇白光干涉輪廓儀呢？得考慮以下幾點(diǎn)
白光干涉輪廓儀是一種高精度的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，廣泛應(yīng)用于表面輪廓測(cè)量、光學(xué)薄膜檢測(cè)等領(lǐng)域。在選購(gòu)白光干涉輪廓儀時(shí)，需要考慮以下幾個(gè)方面：一、測(cè)量需求：首先需要明確自...2025
9-2UNICORN × KLA聯(lián)合特裝展臺(tái)｜CIOE展臺(tái)7號(hào)館7B13，現(xiàn)場(chǎng)抽愛(ài)馬仕禮盒！
第二十六屆中國(guó)國(guó)際光電博覽會(huì)（CIOE）將于2025年9月10-12日在深圳國(guó)際會(huì)展中心舉辦。聚焦信息通信、精密光學(xué)、攝像頭技術(shù)及應(yīng)用、激光制造、紅外紫外、智能...